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北京射线CT检测公司询问报价「多图」张衡的资料

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最后更新: 2023-12-24 00:28
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5分钟前 北京射线CT检测公司询问报价「多图」[北京纳克无损6e51dea]内容:

CT检测原理

工业CT是在射线检测的基础上发展起来的,其基本原理是:让一束X射线投射在物体上,通过物体对X射线的吸收(多次投影)便可获得物体内部的物质分布信息。

当强度为I0的一个窄束X射线穿过吸收系数为的物体时,其强度满足指数衰减关系:

式中为X射线所穿过物质层厚度。在实际情况中,所研究的物体往往不是由单一成分组成的,当物体由若干个不同成分组成时,物体内部各处的穿透率也将可能不同。

CT检测应用闪烁体的分立探测器的主要优点

应用闪烁体的分立探测器的主要优点是:闪烁体在射线方向上的深度可以不受限制,从而使射入的大部分光子被俘获,提高探测效率。尤其在高能条件下,可以缩短获取时间;因为闪烁体是独立的,所以几乎没有光学的窜扰;同时闪烁体之间还有钨或其他重金属隔片,降低了X射线的窜扰。分立探测器的读出速度很快,在微秒量级。同时可以用输出脉冲来选通数据采集,限度减小信号上叠加的噪声。分立探测器对于辐射损伤也是不敏感的。

CT检测平板探测器

平板探测器通常用表面覆盖数百微米的闪烁晶体(如CsI)的非晶态硅或非晶态硒做成。像素尺寸127 或200μm,平板尺寸大约45cm(18in)。读出速度大约3~7.5帧/s。优点是使用比较简单,没有图像扭曲。图像质量接近于胶片照相,基本上可以作为图像增强器的升级换代产品。主要缺点是表面覆盖的闪烁晶体不能太厚,对高能X 射线探测效率低;难以解决散射和窜扰问题,使动态范围减小。在较高能量应用时,必须对电子电路进行射线屏蔽。一般说使用在150kV以下的低能效果较好。

CT检测常用扫描方式介绍

工业CT常用的扫描方式是平移—旋转(TR)方式和只旋转(RO)方式两种。只旋转扫描方式无疑具有更高的射线利用效率,可以得到更快的成像速度;然而,平移—旋转的扫描方式的伪像水平远低于只旋转扫描方式;可以根据样品大小方便地改变扫描参数(采样数据密度和扫描范围),特别是检测大尺寸样品时其优越性更加明显;源—探测器距离可以较小,提高信号幅度;以及探测器通道少可以降低系统造价便于维护等。

原文链接:http://www.wxjsj.net/caigou/show-20383.html,转载和复制请保留此链接。
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