PicoFemto系列透射电子显微镜原位加热/电学样品杆是在标准外形的透射电镜样品杆内安装MEMS工艺制成的加热芯片和电学测量芯片。加热芯片可对样品进行可控温度的加热，电学测量芯片可对样品进行电性质测量。并可在进行加热和电学测量的同时，动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征，大大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。
产品选型
原位加热/电学样品杆具有单倾、双倾两个版本，电极数可选；同时可拓展真空转移芯片杆、低温芯片杆，用户可根据实验需求自行选择。
泽攸科技提供适配Thermofisher/FEI（赛默飞）、JEOL（日本电子）、Hitachi（日立）各型号透射电子显微镜及极靴的不同型号芯片式样品杆，支持定制。
典型案例
1、透射电镜内的原位加热实验；
2、透射电镜内的原位加电实验（可选针对敏感样品的真空转移方案）；
3、透射电镜内的原位热电耦合实验；
4、透射电镜内的低温电学实验；
原位样品杆
https://www.chem17.com/st518508/erlist_2351096.html
https://www.chem17.com/st518508/product_36843746.html