X射线镀层测厚仪Thick800A仪器概述：
Thick 800A 镀层测厚仪是专门针对镀层厚度测量而精心设计的一款新型仪器。主要应用于：金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定； 、铂、银等贵金属和各种饰的含量检测。
2、性能优势
精密的三维移动平台
的样品观测系统
的图像识别
轻松实现深槽样品的检测
四种微孔聚焦准直器，自动切换
双重保护措施，实现无缝防撞
采用大面积高分辨率探测器，有效降低检出限，提高测试精度
全自动智能控制方式，一键式操作!
开机自动退出自检、复位
开盖自动退出样品台，升起Z轴测试平台，方便放样
关盖推进样品台，下降Z轴测试平台并自动完成对焦
直接点击全景或局部景图像选取测试点
点击软件界面测试按钮，自动完成测试并显示测试结果
X射线镀层测厚仪Thick800A技术指标：
分析元素范围：从硫（S）到铀（U）
同时检测元素：多24个元素，多达五层镀层
检出限：可达2ppm，薄可测试0.005μm
分析含量：一般为2ppm到99.9%
镀层厚度：一般在50μm以内（每种材料有所不同）重复性：可达0.1%
稳定性：可达0.1%
SDD探测器：分辨率低135eV
采用的微孔准直技术，小孔径达0.1mm，小光斑达0.1mm
样品观察：配备全景和局部两个工业高清摄像头
准直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与
Ф0.3mm四种准直器组合
仪器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
样品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
样品台尺寸：393(W)x 258 (D）mm
X/Y/Z平台移动速度：额定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平台重复定位精度 ：小于0.1um
操作环境湿度：≤90%
操作环境温度 15℃～30℃
Thick800A荧光镀层测厚仪是天瑞集多年的经验，专门研发用于镀层行业的一款金属镀层测厚仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能强大表面处理电镀厚度检测仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。
特性
借助高性能 X 射线管和高灵敏镀的硅漂移探测器 (SDD)，可对超薄镀层进行测量
极为坚固的结构支持长时间批量测试，具有的长期稳定性
拥有大测量距离的XDV-μ LD型仪器（小12mm）
配备氦气充填的XDV-μ LEAD frame型仪器可测量的元素范围更广—从Na（11）到铀（92）
的多毛细管X射线透镜技术，可将 X射线聚焦在极小的测量面上
通过可编程XY工作台与Z轴（可选）实现自动化的批量测试
凭借视频图像与激光点定位，快速、准确地测量产品
http://www.chem17.com/st387457/product_30277210.html
http://www.rohs-xrf.com/SonList-1709425.html