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半导体闩锁测试仪7000B产品简介7000B系列测试机台阵容有：●7000B-E（专用于ESD试验）●7000B-L（专用于闩锁试验）●7000B-EL（用于ESD/闩锁试验）产品用途【ESD部-满足 JEITA, MIL,ESDA, JEDEC, AEC标准、ESD波形自动测试、对应引脚组合测试、高达8kV HBM测试、采用高规格电源进行破坏判定。】【闩锁部-满足 JEITA, JEDEC, AEC标准、DUT稳定化功能 输入引脚Max HI/Min LO和时钟/图形发生器为标准配置、可搭载最多10台电源(内部6台和外部4台)、高温闩锁试验（选件）、动态IC的闩锁试验（可选）。ESD/闩锁共用部-引脚数:128、256、512，最多10个相同的被测物连续测试。
半导体闩锁测试仪7000B产品详情:
*1 MM标准是400V。 可施加2kV，但持续高电压试验会使继电器寿命缩短。
*2 每台电源均具有闩锁判定功能和电源过电压功能。
*3 应同时使用耐高温热电缆和外部夹具。
*4 需使用示波器(3054系列)，电流探头(CT-1)和20dB衰减器。
https://www.chem17.com/st573720/product_37973225.html
http://www.tzelec.cn/Products-37973225.html
原文链接：http://www.wxjsj.net/shangji/show-13694.html，转载和复制请保留此链接。
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