半导体闩锁测试仪

半导体闩锁测试仪7000B产品简介7000B系列测试机台阵容有：●7000B-E（专用于ESD试验）●7000B-L（专用于闩锁试验）●7000B-EL（用于ESD/闩锁试验）产品用途【ESD部-满足 JEITA, MIL,ESDA, JEDEC, AEC标准、ESD波形自动测试、对应引脚组合测试、高达8kV HBM测试、采用高规格电源进行破坏判定。】【闩锁部-满足 JEITA, JEDEC, AEC标准、DUT稳定化功能 输入引脚Max HI/Min LO和时钟/图形发生器为标准配置、可搭载最多10台电源(内部6台和外部4台)、高温闩锁试验（选件）、动态IC的闩锁试验（可选）。ESD/闩锁共用部-引脚数:128、256、512，最多10个相同的被测物连续测试。